Wafer SiC 4H-N 6H-N HPSI 4H-semi 6H-semi 4H-P 6H-P 3C tipo 2 pollici 3 pollici 4 pollici 6 pollici 8 pollici
Proprietà
4H-N e 6H-N (wafer SiC di tipo N)
Applicazione:Utilizzato principalmente nell'elettronica di potenza, nell'optoelettronica e nelle applicazioni ad alta temperatura.
Gamma di diametri:Da 50,8 mm a 200 mm.
Spessore:350 μm ± 25 μm, con spessori opzionali di 500 μm ± 25 μm.
Resistività:Tipo N 4H/6H-P: ≤ 0,1 Ω·cm (grado Z), ≤ 0,3 Ω·cm (grado P); Tipo N 3C-N: ≤ 0,8 mΩ·cm (grado Z), ≤ 1 mΩ·cm (grado P).
Rugosità:Ra ≤ 0,2 nm (CMP o MP).
Densità del microtubo (MPD):< 1 pezzo/cm².
TTV: ≤ 10 μm per tutti i diametri.
Ordito: ≤ 30 μm (≤ 45 μm per wafer da 8 pollici).
Esclusione dei bordi:Da 3 mm a 6 mm a seconda del tipo di wafer.
Confezione:Cassetta multi-wafer o contenitore singolo-wafer.
Altre dimensioni disponibili: 3 pollici, 4 pollici, 6 pollici, 8 pollici
HPSI (wafer SiC semiisolanti ad alta purezza)
Applicazione:Utilizzato per dispositivi che richiedono elevata resistenza e prestazioni stabili, come dispositivi RF, applicazioni fotoniche e sensori.
Gamma di diametri:Da 50,8 mm a 200 mm.
Spessore:Spessore standard di 350 μm ± 25 μm con opzioni per wafer più spessi fino a 500 μm.
Rugosità:Ra ≤ 0,2 nm.
Densità del microtubo (MPD): ≤ 1 pezzo/cm².
Resistività:Elevata resistenza, tipicamente utilizzato in applicazioni semi-isolanti.
Ordito: ≤ 30 μm (per dimensioni più piccole), ≤ 45 μm per diametri più grandi.
TTV: ≤ 10 μm.
Altre dimensioni disponibili: 3 pollici, 4 pollici, 6 pollici, 8 pollici
4H-P、6H-Pe3C wafer di SiC(Wafer SiC di tipo P)
Applicazione:Principalmente per dispositivi di potenza e ad alta frequenza.
Gamma di diametri:Da 50,8 mm a 200 mm.
Spessore:350 μm ± 25 μm o opzioni personalizzate.
Resistività:Tipo P 4H/6H-P: ≤ 0,1 Ω·cm (grado Z), ≤ 0,3 Ω·cm (grado P).
Rugosità:Ra ≤ 0,2 nm (CMP o MP).
Densità del microtubo (MPD):< 1 pezzo/cm².
TTV: ≤ 10 μm.
Esclusione dei bordi:Da 3 mm a 6 mm.
Ordito: ≤ 30 μm per dimensioni più piccole, ≤ 45 μm per dimensioni più grandi.
Altre dimensioni disponibili: 3 pollici, 4 pollici, 6 pollici5×5 10×10
Tabella dei parametri dei dati parziali
Proprietà | 2 pollici | 3 pollici | 4 pollici | 6 pollici | 8 pollici | |||
Tipo | 4H-N/HPSI/ | 4H-N/HPSI/ | 4H-N/HPSI//4H/6H-P/3C; | 4H-N/HPSI//4H/6H-P/3C; | 4H-N/HPSI/4H-SEMI | |||
Diametro | 50,8 ± 0,3 millimetri | 76,2±0,3 mm | 100±0,3 mm | 150±0,3 mm | 200 ± 0,3 millimetri | |||
Spessore | 330 ± 25 micron | 350 ±25 micron | 350 ±25 micron | 350 ±25 micron | 350 ±25 micron | |||
350±25um; | 500±25um | 500±25um | 500±25um | 500±25um | ||||
o personalizzato | o personalizzato | o personalizzato | o personalizzato | o personalizzato | ||||
Rugosità | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,2 nm | |||
Ordito | ≤ 30 µm | ≤ 30 µm | ≤ 30 µm | ≤ 30 µm | ≤45um | |||
TTV | ≤ 10 µm | ≤ 10 µm | ≤ 10 µm | ≤ 10 µm | ≤ 10 µm | |||
Gratta/Scava | CMP/MP | |||||||
Dipartimento di Polizia di Manila | <1 esemplare/cm-2 | <1 esemplare/cm-2 | <1 esemplare/cm-2 | <1 esemplare/cm-2 | <1 esemplare/cm-2 | |||
Forma | Tondo, piatto 16 mm; lunghezza OF 22 mm; lunghezza OF 30/32,5 mm; lunghezza OF 47,5 mm; TACCA; TACCA; | |||||||
Smusso | 45°, SEMI Spec; Forma a C | |||||||
Grado | Grado di produzione per MOS e SBD; Grado di ricerca; Grado fittizio, Grado di wafer seed | |||||||
Osservazioni | Diametro, spessore, orientamento, le specifiche sopra riportate possono essere personalizzate su richiesta |
Applicazioni
·Elettronica di potenza
I wafer di SiC di tipo N sono fondamentali nei dispositivi elettronici di potenza grazie alla loro capacità di gestire alte tensioni e alte correnti. Sono comunemente utilizzati in convertitori di potenza, inverter e azionamenti motore per settori come le energie rinnovabili, i veicoli elettrici e l'automazione industriale.
· Optoelettronica
I materiali SiC di tipo N, in particolare per applicazioni optoelettroniche, sono impiegati in dispositivi come diodi a emissione luminosa (LED) e diodi laser. La loro elevata conduttività termica e l'ampio bandgap li rendono ideali per dispositivi optoelettronici ad alte prestazioni.
·Applicazioni ad alta temperatura
I wafer SiC 4H-N 6H-N sono adatti agli ambienti ad alta temperatura, come nei sensori e nei dispositivi di potenza utilizzati in applicazioni aerospaziali, automobilistiche e industriali, dove la dissipazione del calore e la stabilità a temperature elevate sono fondamentali.
·Dispositivi RF
I wafer di SiC 4H-N 6H-N vengono utilizzati in dispositivi a radiofrequenza (RF) che operano in gamme di alta frequenza. Trovano applicazione nei sistemi di comunicazione, nella tecnologia radar e nelle comunicazioni satellitari, dove sono richiesti elevata efficienza energetica e prestazioni elevate.
·Applicazioni fotoniche
In fotonica, i wafer di SiC vengono utilizzati per dispositivi come fotorivelatori e modulatori. Le proprietà uniche del materiale lo rendono efficace nella generazione, modulazione e rilevamento della luce nei sistemi di comunicazione ottica e nei dispositivi di imaging.
·Sensori
I wafer di SiC vengono utilizzati in una varietà di applicazioni di sensori, in particolare in ambienti difficili dove altri materiali potrebbero cedere. Tra questi, sensori di temperatura, pressione e sostanze chimiche, essenziali in settori come l'automotive, il petrolio e il gas e il monitoraggio ambientale.
·Sistemi di propulsione per veicoli elettrici
La tecnologia SiC svolge un ruolo significativo nei veicoli elettrici, migliorando l'efficienza e le prestazioni dei sistemi di propulsione. Grazie ai semiconduttori di potenza SiC, i veicoli elettrici possono ottenere una maggiore durata della batteria, tempi di ricarica più rapidi e una maggiore efficienza energetica.
·Sensori avanzati e convertitori fotonici
Nelle tecnologie avanzate dei sensori, i wafer di SiC vengono utilizzati per creare sensori ad alta precisione per applicazioni in robotica, dispositivi medici e monitoraggio ambientale. Nei convertitori fotonici, le proprietà del SiC vengono sfruttate per consentire un'efficiente conversione dell'energia elettrica in segnali ottici, fondamentale nelle infrastrutture di telecomunicazioni e internet ad alta velocità.
Domande e risposte
Q:Cosa rappresenta 4H in 4H SiC?
A:"4H" in 4H SiC si riferisce alla struttura cristallina del carburo di silicio, in particolare una forma esagonale a quattro strati (H). La "H" indica il tipo di politipo esagonale, distinguendolo da altri politipi di SiC come 6H o 3C.
Q:Qual è la conduttività termica del 4H-SiC?
A:La conduttività termica del 4H-SiC (carburo di silicio) è di circa 490-500 W/m·K a temperatura ambiente. Questa elevata conduttività termica lo rende ideale per applicazioni nell'elettronica di potenza e in ambienti ad alta temperatura, dove un'efficiente dissipazione del calore è fondamentale.