Illuminated Essence – Cristallo LSO(Ce) all'avanguardia per una maggiore sensibilità spettrale
Introduzione della scatola per wafer
Il nostro cristallo LSO(Ce) rappresenta l'apice della tecnologia dei materiali a scintillazione, offrendo prestazioni eccezionali in un'ampia gamma di applicazioni. Progettato con precisione e competenza, questo cristallo è drogato con cerio (Ce) per migliorarne l'efficienza di emissione luminosa e la risposta spettrale.
Il cristallo LSO(Ce) vanta una risoluzione energetica e caratteristiche di temporizzazione superiori, rendendolo la scelta ideale per la tomografia a emissione di positroni (PET), la spettroscopia a raggi gamma e altre applicazioni di imaging medico e rilevamento di radiazioni. L'elevata resa luminosa e il rapido tempo di decadimento garantiscono un rilevamento accurato e affidabile dei raggi gamma e di altre radiazioni ionizzanti.
Grazie alle sue prestazioni e affidabilità eccezionali, il nostro cristallo LSO(Ce) definisce un nuovo standard per i materiali di scintillazione, consentendo progressi nella ricerca scientifica, nella diagnostica medica e nella sicurezza nazionale. Sperimentate una sensibilità e una precisione senza pari con il nostro cristallo LSO(Ce), che guida l'innovazione e la scoperta in diversi campi.
Grafico dei dati
Cristalli di scintillazione LSO(Ce) | ||
Proprietà | Unità | Valore |
Formula chimica | Lu₂SiO₅(Ce) | |
Densità | g/cm³ | 7.4 |
Numero atomico (effettivo) | 75 | |
Punto di fusione | °C | 2050 |
Coefficiente di dilatazione termica | C⁻¹ | Da definire x 10‾⁶ |
Piano di scissione | Nessuno | |
Durezza | Mho | 5.8 |
Igroscopico | No | |
Solubilità | g/100gH₂0 | N / A |
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Cristalli di scintillazione LSO(Ce) | ||
Proprietà | Unità | Valore |
Lunghezza d'onda (emissione massima) | nm | 420 |
Gamma di lunghezze d'onda | nm | Da definire |
Tempi di decadimento | ns | 40 |
Resa leggera | fotoni/keV | 30 |
Resa dei fotoelettroni | % di NaI(Tl) | 75 |
Lunghezza della radiazione | cm | 1.14 |
Trasmissione ottica | micron | Da definire |
Trasmittanza | % | Da definire |
Indice di rifrazione |
| 1,82 a 420 nm |
Perdita di riflessione/superficie | % | Da definire |
Sezione trasversale di cattura dei neutroni | fienili | Da definire |
Diagramma dettagliato

