Substrato SiC 4H-N per wafer di produzione SiC da 8 pollici
La tabella seguente mostra le specifiche dei nostri wafer SiC da 8 pollici:
Specifiche DSP SiC di tipo N da 8 pollici | |||||
Numero | Articolo | Unità | Produzione | Ricerca | Manichino |
1: parametri | |||||
1.1 | politipo | -- | 4H | 4H | 4H |
1.2 | orientamento della superficie | ° | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 |
2: Parametro elettrico | |||||
2.1 | drogante | -- | Azoto di tipo n | Azoto di tipo n | Azoto di tipo n |
2.2 | resistività | ohm ·cm | 0,015~0,025 | 0,01~0,03 | NA |
3:Parametro meccanico | |||||
3.1 | diametro | mm | 200±0,2 | 200±0,2 | 200±0,2 |
3.2 | spessore | µm | 500±25 | 500±25 | 500±25 |
3.3 | Orientamento della tacca | ° | [1- 100]±5 | [1- 100]±5 | [1- 100]±5 |
3.4 | Profondità della tacca | mm | 1~1,5 | 1~1,5 | 1~1,5 |
3.5 | LTV | µm | ≤5(10mm*10mm) | ≤5(10mm*10mm) | ≤10(10mm*10mm) |
3.6 | TTV | µm | ≤10 | ≤10 | ≤15 |
3.7 | Arco | µm | -25~25 | -45~45 | -65~65 |
3.8 | Ordito | µm | ≤30 | ≤50 | ≤70 |
3.9 | AFM | nm | Ra ≤ 0,2 | Ra ≤ 0,2 | Ra ≤ 0,2 |
4:Struttura | |||||
4.1 | densità del microtubo | cad/cm2 | ≤2 | ≤10 | ≤50 |
4.2 | contenuto di metallo | atomi/cm2 | ≤1E11 | ≤1E11 | NA |
4.3 | TSD | cad/cm2 | ≤500 | ≤1000 | NA |
4.4 | BPD | cad/cm2 | ≤2000 | ≤5000 | NA |
4.5 | TED | cad/cm2 | ≤7000 | ≤10000 | NA |
5. Qualità frontale | |||||
5.1 | anteriore | -- | Si | Si | Si |
5.2 | finitura superficiale | -- | Si-face CMP | Si-face CMP | Si-face CMP |
5.3 | particella | pezzo/cialda | ≤100 (dimensione≥0,3μm) | NA | NA |
5.4 | graffio | pezzo/cialda | ≤5,Lunghezza totale≤200mm | NA | NA |
5.5 | Bordo scheggiature/tacche/crepe/macchie/contaminazione | -- | Nessuno | Nessuno | NA |
5.6 | Aree di politipo | -- | Nessuno | Area ≤10% | Area ≤30% |
5.7 | marcatura frontale | -- | Nessuno | Nessuno | Nessuno |
6:Qualità del dorso | |||||
6.1 | finitura posteriore | -- | MP faccia C | MP faccia C | MP faccia C |
6.2 | graffio | mm | NA | NA | NA |
6.3 | Bordo dei difetti del retro scheggiature/rientranze | -- | Nessuno | Nessuno | NA |
6.4 | Rugosità della schiena | nm | Ra ≤5 | Ra ≤5 | Ra ≤5 |
6.5 | Marcatura sul retro | -- | Tacca | Tacca | Tacca |
7: bordo | |||||
7.1 | bordo | -- | Smussare | Smussare | Smussare |
8:Pacchetto | |||||
8.1 | confezione | -- | Epi-ready con vuoto confezione | Epi-ready con vuoto confezione | Epi-ready con vuoto confezione |
8.2 | confezione | -- | Multiwafer confezione della cassetta | Multiwafer confezione della cassetta | Multiwafer confezione della cassetta |
Diagramma dettagliato
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