Produzione di ricerca di wafer SiC 4H-N/6H-N Grado fittizio Dia150mm Substrato in carburo di silicio

Breve descrizione:

Siamo in grado di fornire substrati a film sottile superconduttori ad alta temperatura, film sottili magnetici e substrati a film sottile ferroelettrici, cristalli semiconduttori, cristalli ottici, materiali in cristalli laser, fornendo allo stesso tempo servizi di orientamento, taglio dei cristalli, molatura, lucidatura e altri servizi di lavorazione. I nostri substrati SiC provengono dalla fabbrica Tankeblue in Cina.


Dettagli del prodotto

Tag dei prodotti

Specifiche del substrato in carburo di silicio (SiC) da 6 pollici di diametro

Grado

DPM zero

Produzione

Grado di ricerca

Grado fittizio

Diametro

150,0 mm±0,25 mm

Spessore

4H-N

350um±25um

4H-SI

500um±25um

Orientamento dei wafer

In asse:<0001>±0,5°per 4H-SI
Fuori asse: 4,0°verso<1120>±0,5°per 4H-N

Appartamento principale

{10-10}±5,0°

Lunghezza piatta primaria

47,5 mm±2,5 mm

Esclusione dei bordi

3 mm

TTV/Arco/Deformazione

≤15um/≤40um/≤60um

Densità del microtubo

≤1 cm-2

≤5 cm-2

≤15 cm-2

≤50 cm-2

Resistività 4H-N 4H-SI

0,015~0,028Ω!cm

≥1E5Ω!cm

Rugosità

Polacco Ra ≤ 1 nm CMP Ra ≤ 0,5 nm

#Crepe dovute a luce ad alta intensità

Nessuno

1 consentito, ≤2 mm

Lunghezza cumulativa ≤ 10 mm, lunghezza singola ≤ 2 mm

*Piastre esagonali mediante luce ad alta intensità

Area cumulativa ≤1%

Area cumulativa ≤ 2%

Area cumulativa ≤ 5%

*Aree di politipo mediante luce ad alta intensità

Nessuno

Area cumulativa ≤ 2%

Area cumulativa ≤ 5%

*&Graffi dovuti alla luce ad alta intensità

3 graffi su 1 x lunghezza cumulativa del diametro del wafer

5 graffi su 1 x lunghezza cumulativa del diametro del wafer

5 graffi su 1 x lunghezza cumulativa del diametro del wafer

Chip del bordo

Nessuno

3 consentiti, ≤0,5 mm ciascuno

5 consentiti, ≤1 mm ciascuno

Contaminazione da luce ad alta intensità

Nessuno

Vendite e servizio clienti

Acquisto materiali

Il reparto acquisti materiali è responsabile della raccolta di tutte le materie prime necessarie per produrre il prodotto. La tracciabilità completa di tutti i prodotti e materiali, comprese le analisi chimiche e fisiche, è sempre disponibile.

Qualità

Durante e dopo la fabbricazione o la lavorazione dei vostri prodotti, il reparto di controllo qualità è coinvolto per garantire che tutti i materiali e le tolleranze soddisfino o superino le vostre specifiche.

Servizio

Siamo orgogliosi di avere personale tecnico di vendita con oltre 5 anni di esperienza nel settore dei semiconduttori. Sono addestrati per rispondere a domande tecniche e fornire preventivi tempestivi per le vostre esigenze.

siamo al tuo fianco in qualsiasi momento in cui hai un problema e lo risolviamo in 10 ore.

Diagramma dettagliato

Substrato in carburo di silicio (1)
Substrato in carburo di silicio (2)

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