Wafer epitassiali 4H-SiC per MOSFET ad altissima tensione (100–500 μm, 6 pollici)

Breve descrizione:

La rapida crescita dei veicoli elettrici, delle reti intelligenti, dei sistemi di energia rinnovabile e delle apparecchiature industriali ad alta potenza ha creato un'urgente necessità di dispositivi a semiconduttore in grado di gestire tensioni più elevate, densità di potenza più elevate e maggiore efficienza. Tra i semiconduttori a banda larga,carburo di silicio (SiC)si distingue per l'ampio bandgap, l'elevata conduttività termica e la superiore intensità del campo elettrico critico.


Caratteristiche

Panoramica del prodotto

La rapida crescita dei veicoli elettrici, delle reti intelligenti, dei sistemi di energia rinnovabile e delle apparecchiature industriali ad alta potenza ha creato un'urgente necessità di dispositivi a semiconduttore in grado di gestire tensioni più elevate, densità di potenza più elevate e maggiore efficienza. Tra i semiconduttori a banda larga,carburo di silicio (SiC)si distingue per l'ampio bandgap, l'elevata conduttività termica e la superiore intensità del campo elettrico critico.

NostroWafer epitassiali 4H-SiCsono progettati specificamente perapplicazioni MOSFET ad altissima tensioneCon strati epitassiali che vanno daDa 100 μm a 500 μm on Substrati da 6 pollici (150 mm)Questi wafer offrono le regioni di deriva estese richieste per i dispositivi di classe kV, mantenendo al contempo un'eccezionale qualità cristallina e scalabilità. Gli spessori standard includono 100 μm, 200 μm e 300 μm, con possibilità di personalizzazione.

Spessore dello strato epitassiale

Lo strato epitassiale gioca un ruolo decisivo nel determinare le prestazioni del MOSFET, in particolare l'equilibrio tratensione di rotturaEresistenza attiva.

  • 100–200 μm: Ottimizzato per MOSFET a tensione medio-alta, offre un eccellente equilibrio tra efficienza di conduzione e forza di blocco.

  • 200–500 μm: Adatto per dispositivi ad altissima tensione (10 kV+), consentendo lunghe regioni di deriva per caratteristiche di breakdown robuste.

In tutta la gamma,l'uniformità dello spessore è controllata entro ±2%, garantendo la coerenza tra wafer e wafer e tra lotto e lotto. Questa flessibilità consente ai progettisti di ottimizzare le prestazioni dei dispositivi in ​​base alle classi di tensione target, mantenendo al contempo la riproducibilità nella produzione di massa.

Processo di produzione

I nostri wafer sono realizzati utilizzandoepitassia CVD (deposizione chimica da vapore) all'avanguardia, che consente un controllo preciso dello spessore, del drogaggio e della qualità cristallina, anche per strati molto spessi.

  • Epitassia CVD– Gas ad elevata purezza e condizioni ottimizzate garantiscono superfici lisce e basse densità di difetti.

  • Crescita a strati spessi– Le ricette di processo proprietarie consentono spessori epitassiali fino a500 microncon eccellente uniformità.

  • Controllo antidoping– Concentrazione regolabile tra1×10¹⁴ – 1×10¹⁶ cm⁻³, con uniformità migliore di ±5%.

  • Preparazione della superficie– Le cialde subisconoLucidatura CMPe un'ispezione rigorosa, che garantisce la compatibilità con processi avanzati quali l'ossidazione del gate, la fotolitografia e la metallizzazione.

Vantaggi principali

  • Capacità di tensione ultra elevata– Gli strati epitassiali spessi (100–500 μm) supportano i progetti MOSFET di classe kV.

  • Qualità eccezionale del cristallo– Le basse densità di dislocazioni e difetti del piano basale garantiscono affidabilità e riducono al minimo le perdite.

  • Substrati di grandi dimensioni da 6 pollici– Supporto per la produzione ad alto volume, riduzione dei costi per dispositivo e compatibilità fab.

  • Proprietà termiche superiori– L’elevata conduttività termica e l’ampio bandgap consentono un funzionamento efficiente ad alta potenza e temperatura.

  • Parametri personalizzabili– Spessore, drogaggio, orientamento e finitura superficiale possono essere personalizzati in base a requisiti specifici.

Specifiche tipiche

Parametro Specifica
Tipo di conduttività Tipo N (drogato con azoto)
Resistività Qualunque
Angolo fuori asse 4° ± 0,5° (verso [11-20])
Orientamento dei cristalli (0001) Si-faccia
Spessore 200–300 μm (personalizzabile 100–500 μm)
Finitura superficiale Fronte: CMP lucidato (epi-ready) Retro: lappato o lucidato
TTV ≤ 10 μm
Arco/Ordito ≤ 20 μm

Aree di applicazione

I wafer epitassiali 4H-SiC sono ideali perMOSFET nei sistemi ad altissima tensione, tra cui:

  • Inverter per trazione di veicoli elettrici e moduli di ricarica ad alta tensione

  • Apparecchiature di trasmissione e distribuzione della rete intelligente

  • Inverter per energie rinnovabili (solare, eolica, accumulo)

  • Alimentatori industriali ad alta potenza e sistemi di commutazione

Domande frequenti

D1: Qual è il tipo di conduttività?
A1: Tipo N, drogato con azoto: lo standard industriale per MOSFET e altri dispositivi di potenza.

D2: Quali spessori epitassiali sono disponibili?
A2: 100–500 μm, con opzioni standard da 100 μm, 200 μm e 300 μm. Spessori personalizzati disponibili su richiesta.

D3: Quali sono l'orientamento del wafer e l'angolo fuori asse?
A3: (0001) Faccia Si, con 4° ± 0,5° fuori asse verso la direzione [11-20].

Chi siamo

XKH è specializzata nello sviluppo, nella produzione e nella vendita di vetri ottici speciali e nuovi materiali cristallini ad alta tecnologia. I nostri prodotti sono destinati all'elettronica ottica, all'elettronica di consumo e al settore militare. Offriamo componenti ottici in zaffiro, coperture per lenti di telefoni cellulari, wafer in ceramica, LT, carburo di silicio (SIC), quarzo e cristalli semiconduttori. Grazie a competenze specialistiche e attrezzature all'avanguardia, eccelliamo nella lavorazione di prodotti non standard, con l'obiettivo di diventare un'azienda leader nel settore dei materiali optoelettronici ad alta tecnologia.

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